როგორია დაფარვის სამიზნე მასალის მახასიათებლები და ტექნიკური პრინციპები

დაფარულ სამიზნეზე თხელი ფილმი სპეციალური მასალის ფორმისაა.სისქის კონკრეტული მიმართულებით მასშტაბი ძალიან მცირეა, რაც მიკროსკოპული გაზომვადი რაოდენობაა.გარდა ამისა, ფირის სისქის გარეგნობისა და ინტერფეისის გამო, მატერიალური უწყვეტობა წყდება, რაც აქცევს ფირის მონაცემებსა და სამიზნე მონაცემებს განსხვავებული საერთო თვისებების მქონე. და სამიზნე ძირითადად არის მაგნიტრონის დაფრქვევის საფარის გამოყენება, Beijing Richmat-ის რედაქტირება გვასწავლის. დაფარვის პრინციპი და უნარები.

　　一、დაფხვნილი საფარის პრინციპი

დაფარვის უნარი არის იონური დაბომბვის სამიზნე გარეგნობის გამოყენება, სამიზნე ატომები მოხვდება იმ ფენომენიდან, რომელიც ცნობილია როგორც sputtering.სუბსტრატის ზედაპირზე დეპონირებულ ატომებს ეწოდება გამჭოლი საფარი. ჩვეულებრივ, გაზის იონიზაცია წარმოიქმნება გაზის გამონადენით და დადებითი იონები ელექტრული ველის მოქმედებით დიდი სიჩქარით ბომბავს კათოდის სამიზნეს, არღვევს ატომებს ან მოლეკულებს. კათოდური სამიზნე და მიფრინავს სუბსტრატის ზედაპირზე, რათა დეპონირდება ფილმში. მარტივად რომ ვთქვათ, დაფქული საფარი იყენებს დაბალი წნევის ინერტული აირის მბზინავ გამონადენს იონების წარმოქმნისთვის.

ზოგადად, დამღლელი ფირის მოპირკეთების მოწყობილობა აღჭურვილია ორი ელექტროდით ვაკუუმური გამონადენის პალატაში და კათოდური სამიზნე შედგება საფარის მონაცემებისგან.ვაკუუმის კამერა ივსება არგონის გაზით 0,1~10Pa წნევით.მბზინავი გამონადენი ხდება კათოდზე უარყოფითი მაღალი ძაბვის ზემოქმედებით 1~3kV dc ან rf ძაბვა 13,56mhz. არგონის იონები ბომბავს სამიზნე ზედაპირს და იწვევს დაფხეკილი სამიზნე ატომების დაგროვებას სუბსტრატზე.

　　დაფარვის უნარის მახასიათებლები

1, დაწყობის სწრაფი სიჩქარე

განსხვავება მაღალსიჩქარიან მაგნიტრონის დაფრქვევის ელექტროდსა და ტრადიციულ ორეტაპიან ჭედურ ​​ელექტროდს შორის არის ის, რომ მაგნიტი განლაგებულია სამიზნის ქვემოთ, ასე რომ დახურული არათანაბარი მაგნიტური ველი ჩნდება სამიზნის ზედაპირზე. ელექტრონებზე ლორენცის ძალა არის ცენტრისკენ. ჰეტეროგენული მაგნიტური ველის შესახებ.ფოკუსირების ეფექტის გამო ელექტრონები ნაკლებად იშლება.ჰეტეროგენული მაგნიტური ველი ტრიალებს სამიზნე ზედაპირს, ხოლო ჰეტეროგენულ მაგნიტურ ველში დატყვევებული მეორადი ელექტრონები განმეორებით ეჯახებიან აირის მოლეკულებს, რაც აუმჯობესებს გაზის მოლეკულების მაღალ კონვერტაციის სიჩქარეს. შესაბამისად, მაგნიტრონის მაღალსიჩქარიანი დაფრქვევა მოიხმარს დაბალ ენერგიას, მაგრამ შეუძლია მიიღოს საფარის დიდი ეფექტურობა, იდეალური გამონადენის მახასიათებლებით.

2, სუბსტრატის ტემპერატურა დაბალია

მაღალსიჩქარიანი მაგნიტრონის ჭყლეტა, ასევე ცნობილი როგორც დაბალი ტემპერატურის ცურვა.მიზეზი ის არის, რომ მოწყობილობა იყენებს გამონადენებს ელექტრომაგნიტური ველების სივრცეში, რომლებიც პირდაპირ ერთმანეთზეა.მეორადი ელექტრონები, რომლებიც ჩნდება სამიზნის გარეთ, ერთმანეთში.სწორი ელექტრომაგნიტური ველის მოქმედების ქვეშ, იგი მიჯაჭვულია სამიზნის ზედაპირთან და მოძრაობს ასაფრენი ბილიკის გასწვრივ წრიული მოძრავი ხაზით, რამდენჯერმე ურტყამს გაზის მოლეკულებს გაზის მოლეკულების იონიზაციისთვის. ერთად, ელექტრონები თანდათან კარგავენ ენერგიას. განმეორებითი მუწუკები, სანამ მათი ენერგია თითქმის მთლიანად არ დაიკარგება, სანამ ისინი შეძლებენ თავის დაღწევას სამიზნის ზედაპირიდან სუბსტრატის მახლობლად.იმის გამო, რომ ელექტრონების ენერგია ძალიან დაბალია, სამიზნის ტემპერატურა არ იზრდება ძალიან მაღალი.ეს საკმარისია სუბსტრატის ტემპერატურის აწევის დასაპირისპირებლად, რომელიც გამოწვეულია ჩვეულებრივი დიოდური გასროლით მაღალი ენერგიის ელექტრონების დაბომბვით, რომელიც ასრულებს კრიოგენიზაციას.

3, მემბრანული სტრუქტურების ფართო სპექტრი

ვაკუუმური აორთქლებისა და ინექციური დეპონირების შედეგად მიღებული წვრილი ფენების სტრუქტურა საკმაოდ განსხვავდება ნაყარი მყარი ნივთიერებების შეთხელებით მიღებულისგან.ზოგადად არსებული მყარი სხეულებისგან განსხვავებით, რომლებიც კლასიფიცირებულია, როგორც არსებითად ერთი და იგივე სტრუქტურა სამ განზომილებაში, გაზის ფაზაში დეპონირებული ფილმები კლასიფიცირდება როგორც ჰეტეროგენული სტრუქტურები. თხელი ფენები სვეტოვანია და შეიძლება გამოკვლეული იყოს სკანირების ელექტრონული მიკროსკოპით.ფილმის სვეტოვანი ზრდა გამოწვეულია სუბსტრატის ორიგინალური ამოზნექილი ზედაპირით და სუბსტრატის გამოჩენილ ნაწილებში რამდენიმე ჩრდილით.თუმცა, სვეტის ფორმა და ზომა საკმაოდ განსხვავებულია სუბსტრატის ტემპერატურის, დაწყობილი ატომების ზედაპირული დისპერსიის, მინარევების ატომების დამარხვის და სუბსტრატის ზედაპირთან შედარებით შემხვედრი ატომების შემთხვევის კუთხის გამო.გადაჭარბებული ტემპერატურის დიაპაზონში, თხელ ფილას აქვს ბოჭკოვანი სტრუქტურა, მაღალი სიმკვრივე, რომელიც შედგება წვრილი სვეტოვანი კრისტალებისაგან, რაც წარმოადგენს დახვეწილი ფილმის უნიკალურ სტრუქტურას.

ჭურვის წნევა და ფირის დაწყობის სიჩქარე ასევე გავლენას ახდენს ფილმის სტრუქტურაზე.იმის გამო, რომ გაზის მოლეკულებს აქვთ სუბსტრატის ზედაპირზე ატომების დისპერსიის ჩახშობის ეფექტი, მაღალი დაფრქვევის წნევის ეფექტი შესაფერისია მოდელში სუბსტრატის ტემპერატურის დაცემისთვის.ამიტომ, წვრილმარცვლების შემცველი ფოროვანი ფილმების მიღება შესაძლებელია მაღალი წნევით.ეს პატარა მარცვლეულის ფილმი შესაფერისია შეზეთვის, აცვიათ წინააღმდეგობის, ზედაპირის გამკვრივებისთვის და სხვა მექანიკური გამოყენებისთვის.

4, დაალაგეთ შემადგენლობა თანაბრად

ნაერთები, ნარევები, შენადნობები და ა.შ., რომლებიც შესაფერისად ძნელია დაფარვა ვაკუუმური აორთქლებით, რადგან კომპონენტების ორთქლის წნევა განსხვავებულია ან იმიტომ, რომ ისინი დიფერენცირდებიან გაცხელებისას. დაფარვის მეთოდი არის ატომების სამიზნე ზედაპირის ფენის ფენა-ფენა. სუბსტრატს, ამ თვალსაზრისით უფრო სრულყოფილი ფილმის გადაღების უნარებია.ყველა სახის მასალა შეიძლება გამოყენებულ იქნას სამრეწველო საფარის წარმოებაში დაფქვით.